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芯片在开发初期往往都存在着一些缺陷,FIB(Focused Ion Beam, 聚焦离子束) 电路修改服务,FIB电路修改则是利用FIB对芯片电路进行物理修改,可使芯片设计者对芯片问题处作针对性的测试,以便更快更准确的验证设计方案。
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